納米粒度及Zeta電位分析儀是一種常用于表征納米顆粒的工具，它能夠提供顆粒尺寸、分布以及顆粒表面電荷特性等信息。其工作原理基于光散射和電動力學(xué)相互作用。
 

　　納米粒度分析儀主要通過光散射現(xiàn)象來確定樣品中顆粒的尺寸和分布。其工作步驟如下：
 

　　1、激光發(fā)射：儀器會發(fā)射一束激光光束至樣品中。
 

　　2、光散射：激光光束與樣品中的顆粒相互作用，并以不同的角度散射出去。
 

　　3、探測與分析：儀器收集被散射的光并進(jìn)行探測。通過檢測不同角度上的散射強(qiáng)度，可以計(jì)算得到顆粒的大小和分布。
 

　　Zeta電位分析儀用于測量液體中顆粒或界面的電荷狀態(tài)，即顆粒的表面電勢。其工作步驟如下：
 

　　1、電場應(yīng)用：樣品被置于一個(gè)電極中，并施加外部電場。
 

　　2、電荷分散：在電場的作用下，顆粒會帶上相應(yīng)的電荷并分散在液體中。
 

　　3、核心殼層：顆粒表面的電荷會形成一個(gè)電荷雙層，其中核心層為吸附的離子，外層為對離子的溶劑化層。
 

　　4、Zeta電位測量：通過測量顆粒在電場中的移動速度來計(jì)算其Zeta電位。移動速度越快，表示顆粒表面電勢越高。
 

　　納米粒度及Zeta電位分析儀常常被結(jié)合使用，以提供更全面的顆粒特性信息。它們廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、生物醫(yī)學(xué)、環(huán)境科學(xué)等領(lǐng)域，幫助研究人員深入了解納米顆粒的尺寸、分布和表面電荷等關(guān)鍵參數(shù)，從而指導(dǎo)材料設(shè)計(jì)和應(yīng)用研究。