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【新品上市】多角度納米粒度及Zeta電位分析儀

更新時(shí)間:2022-10-25  |  點(diǎn)擊率:1628

      顆粒粒度對(duì)產(chǎn)品的質(zhì)量起著至關(guān)重要的作用,為了幫助廣大用戶準(zhǔn)確獲得顆粒粒度信息,以便更好地指導(dǎo)工業(yè)生產(chǎn),澳譜特科技推出了939SZ多角度納米粒度及Zeta電位分析儀。不同粒度的顆粒在不同散射角具有不同的散射特性,多角度動(dòng)態(tài)光散射從多個(gè)不同的散射角進(jìn)行光強(qiáng)自相關(guān)函數(shù)的測(cè)量,并將其結(jié)合到一個(gè)數(shù)據(jù)分析中獲取顆粒粒度分布。多角度動(dòng)態(tài)光散射技術(shù)具有如下優(yōu)點(diǎn):  
      1.避免了對(duì)未知樣品不恰當(dāng)散射角度的選擇  
      2.可以提供更多的信息進(jìn)行顆粒粒度分布的反演  
      因此,多角度動(dòng)態(tài)光散射技術(shù)可以獲得更多的顆粒粒度測(cè)量信息,進(jìn)而提高顆粒粒度分布的準(zhǔn)確性。  

939SZ 納米粒度及Zeta電位分析儀.png